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标题: 苹果iPhone 6 Plus存储芯片品质存疑恐大规模召回 [打印本页]

作者: News 时间: 2014-11-5 10:34
标题: 苹果iPhone 6 Plus存储芯片品质存疑恐大规模召回

因安装应用过多，部分iPhone 6 Plus曾经出现过假死症状。近期，台湾媒体《中时电子报》再度爆出，iPhone 6 Plus可能因质量问题被大规模召回。

据外媒报道，部分iPhone 6 Plus在查看通知中心、切换APP时会遭遇无故死机的症状，而更有网友表态称，自己新机购买的iPhone 6 Plus已经送修多次，巧合的是，这些机型都是iPhone 6 Plus顶配128GB版本。

据知情人士报道，苹果iPhone 6所采用的内部芯片NAND Flash控制的IC品质存在瑕疵，虽然存储容量巨大，但是读取写入速度并不能承载芯片运行，而深层次的原因则是因为苹果对于成本的控制。

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